SemiWorks半導體靜態(tài)參數(shù)測試軟件支持測量相關器件在廣泛工作條件下的全部參數(shù)，包括擊穿電壓、導通電阻以及三端子FET電容、柵極電荷和功耗等IV參數(shù)。
SemiWorks可以幫助功率電路設計人員選擇最適合的半導體器件，提升產(chǎn)品的性能。
提供完整的電路設計解決方案
從靜態(tài)特征、柵極電荷特征到功率損耗的寬泛器件參數(shù)測試
搭配STS系列半導體靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)和IVCVQG測試治具，實現(xiàn)一鍵自動化測試
支持測試所有IV、柵極電荷、電容、切換特征、功率損耗參數(shù)
兼容MOSFET、IGBT、BJT、Diode等類型器件的測試
單一軟件程控包括測試治具在內的所有測試設備
提供可視化的操作步驟和測試流程指引，簡單直觀
支持自定義被測器件的限值，用于后續(xù)的PASS/FAIL判定
測試數(shù)據(jù)與日志實時刷新，支持數(shù)據(jù)表、曲線圖等顯示，提供錯誤告警功能
測試數(shù)據(jù)/報告可導出為Word、pdf、Excel、CSV等多種格式
適用于三管腳/兩管腳的半導體封裝器件或晶圓器件的測試與表征
車載充電機、充電樁、儲能變流器等
高壓、大電流性能測試......，符合續(xù)航提升和快充需求
變頻器、伺服驅動器、電機驅動系統(tǒng)等
高頻開關特性、過載保護測試......，支撐工業(yè)設備的精度和高效運行
封裝器件、晶圓級器件等
擊穿電壓測試、漏電流測試、導通電阻測試......，確保工藝穩(wěn)定性
| 特征 | 類別 | 參數(shù) |
|---|---|---|
| 靜態(tài)特征 | 閾值電壓 | Vgs(th)、Vge(th) |
| 傳輸特征 | Id-Vgs、Ic-Vge、gfs | |
| 導通電阻 | Rds-on、Vce(sat) | |
| 柵極泄漏電流 | Igss、lges | |
| 輸出泄漏電流 | Idss、Ices | |
| 輸出特征 | Id-Vds、Ic-Vce | |
| 擊穿電壓 | BVds、BVces | |
| 柵極電荷特征 | 柵極電荷 | Qg、Qg(th)、Qgs、Qgd、Qsw、Qsync、Qoss |
| 電容特征 | 柵極電阻 | Rg |
| 器件電容 | Ciss、Coss、Coss_eff、Crss、Cgs、Cgd、Cies、Coes、Cres | |
| 切換特征 | 切換參數(shù) | Td(通)、Td(斷)、Tr、Tf*1 |
| 功率損耗 | 功率損耗參數(shù) | 驅動損耗/切換損耗*2 特定占空比傳導損耗*3 |
*1. 通過測得Qg特征、Vth和Rg計算得出切換參數(shù)
*2. 通過測得特定頻率Qg特征、Vth和Rg計算得出驅動損耗和切換損耗
*3. 通過測得導通電阻和峰值電流計算得出傳導損耗
? 導入導出
支持導入導出Json格式的測試配置
? 多類型切換測試
內置多種類型的DUT，提供特征參數(shù)和特征圖測試
? 限值設置
支持設置被測器件的上下限值，可自定義電壓、電流、溫度測試條件
? 測試狀態(tài)顯示
通過顏色標識“進行”、“通過”、“失敗”的測試狀態(tài)
? PASS/FIAL判定
支持對測量值進行PASS/FAIL判定，并通過顏色標識判定結果
? 單步測試運行
支持自定義測試序列，可單步/連續(xù)執(zhí)行測試序列
? 測試圖表
支持測量并記錄測試數(shù)據(jù)，并映射出測試波形圖
? 測試數(shù)據(jù)
支持實時顯示測試數(shù)據(jù)總表，數(shù)據(jù)可存儲到數(shù)據(jù)庫
? 測試日志
測試日志實時刷新，支持在測試異常、錯誤時進行告警
